# 一阶可靠性方法

SRAM良率签核需要在每个PVT条件下给出10⁻⁶到10⁻¹²量级的单元失效概率，逐点跑重要性采样代价过高。该方法把各失效瓣的设计点跨PVT迁移，用每个瓣一次SPICE运行做锚定修正，再用随机校准条件上的重要性采样给出分裂保形裕度，无法判定的条件升级为重要性采样。在SkyWater 130 nm与ASAP7 7 nm全部242个未见条件上，校准后没有出现不安全接受，由保形上限读出的最低工作电压与重要性采样相差−1至+34 mV，1 Mb宏交付良率至少99.88%。

SRAM良率签核需要在每个PVT条件下给出10⁻⁶到10⁻¹²量级的单元失效概率，逐点跑重要性采样代价过高。该方法把各失效瓣的设计点跨PVT迁移，用每个瓣一次SPICE运行做锚定修正，再用随机校准条件上的重要性采样给出分裂保形裕度，无法判定的条件升级为重要性采样。在SkyWater 130 nm与ASAP7 7 nm全部242个未见条件上，校准后没有出现不安全接受，由保形上限读出的最低工作电压与重要性采样相差−1至+34 mV，1 Mb宏交付良率至少99.88%。